頂點光電子商城2024年12月4日消息：近日，長光辰芯（Gpixel）宣布推出兩款高速、高靈敏度背照式 TDI CMOS 圖像傳感器：GLT5008BSI 和 GLT5016BSI。
此兩款產品采用更優化的設計，具有更高的行頻、更高量子效率，更好的片上集成度，更加匹配半導體晶圓檢測、FPD 檢測、高通量基因測序、生物熒光成像等行業的應用需求。
在分辨率方面，GLT5008BSI水平方向有效分辨率為8208像素。GLT5016BSI水平方向有效分辨率為16416像素，是16K級別的背照式CMOS TDI圖像傳感器。
在靈敏度方面，兩者均采用背照式工藝，提高了量子效率。峰值量子效率高，尤其在特定波長下表現出色（如440nm處可達92.4%以上）。
在性能方面，GLT5008BSI最高行頻可達1MHz（部分配置下為500kHz）。GLT5016BSI最高行頻可達500kHz。
在數據輸出方面，GLT5008BSI最高輸出數據率為86.4Gbps。GLT5016BSI最高輸出數據率為103.7Gbps。
在集成度方面，兩款傳感器均集成了時序控制模塊和電源管理模塊。支持通道合并、可選掃描方向等功能。
在低功耗與散熱方面，GLT5016BSI在最高行頻下功耗小于6.4W。采用415引腳的μPGA陶瓷封裝，確保高可靠性和良好的散熱性能。
在技術亮點方面，背照式工藝提高了量子效率，使得傳感器在弱光環境下也能表現出色。時延積分（TDI）技術能夠在捕捉快速運動或瞬時變化的圖像時，顯著提升圖像質量。高數據輸出率與100GiGE相機接口使得傳感器能夠輕松應對大數據量的處理需求，為系統集成提供了便利。
長光辰芯還提供不同譜段的ARC（抗反射涂層）定制服務，以滿足更多樣化的應用需求。這為用戶提供了更多的選擇和靈活性。
總之，長光辰芯發布的這兩款高速、高靈敏度背照式CMOS TDI圖像傳感器在多個技術指標上都顯示出了獨特的競爭優勢，為基因測序、半導體檢測、屏幕檢測等領域帶來了更加準確、簡單、高效的解決方案。
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